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蔡司 倒置材料研究显微镜 Axio Vert.A1

蔡司 倒置材料研究显微镜 Axio Vert.A1

简要描述:
Axio Vert.A1 可以使用传统和高级的观察方式检测大而重的样品。可轻松在明场、暗场、DIC、C-DIC、荧光和反射偏光等观察方式之间切换。在透射光观察中,可使用明场、偏光和相差。或者将几种观察方式结合起来以获取更多的附加信息。

更新时间:2017-07-17

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厂商性质:代理商

生产地址:

 

显微结构和结构分析:观察方式问题。

Axio Vert.A1 可以使用传统和高级的观察方式检测大而重的样品。可轻松在明场、暗场、DIC、C-DIC、荧光和反射偏光等观察方式之间切换。在透射光观察中,可使用明场、偏光和相差。或者将几种观察方式结合起来以获取更多的附加信息。

5 位编码型物镜转盘能够自动识别物镜改变。通过光路管理器调节光强。现在,您可以高效量化结构信息,评估材料特性和质量。获取有价值的新信息,以及优化制备或生产流程。然后采取相应措施。

 

  • 使用各种物镜快速成像
    不同应用需要使用不同的物镜。利用 Axio Vert.A1 的 5 位编码物镜转盘可随时选择合适的放大倍率。节省时间和消除误差来源:这种编码方式允许 Axio Vert.A1 自动识别物镜。

 

  • 适用于各种细节成像的观察方式
    Axio Vert.A1 提供各类常用观察方式:使用反射光观察时,借助 4 位反射光镜模块转盘,可以在明场、暗场、DIC、C-DIC、荧光和偏光观察方式之间进行快速方便地切换,用于检测诸如镁和铝等各向异性材料。切换至透射光观察时,可以使用明场、偏光或相相差观察方式。

 

  • 重复性测量与比较
    使用分度线和结构比较板进行测量和计数。此外,卡尔·蔡司 AxioVision 成像软件可以提供一系列功能强大的模块用于检测,例如:晶粒度、多相分析、膜厚度测量和交互式测量。

 

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